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  • LCR测试仪

    AT2818LCR测试仪采用了真彩TFT-LCD,全中文操作界面(可配置成英文界面)。 AT2818已经升级为连续频率,分辨率为0.001Hz。 AT2818可同时对元件的4参数进行测试,每种参数都可任意配置,全新改进后的仪器, 实现主副四参数全6位显示,可扫描10种频率或电平列表,还可对3组用户频率进行校正, 提高准确度。新升级版本采用大字体显示,读数更加直观。

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  • LCR测试仪

    AT3818LCR测试仪采用了真彩TFT-LCD,全中文操作界面(可配置成英文界面)。 AT3818已经升级为连续频率,分辨率为0.001Hz。 AT3818可同时对元件的4参数进行测试,每种参数都可任意配置,全新改进后的仪器, 实现主副四参数全6位显示,可扫描10种频率或电平列表,还可对3组用户频率进行校正, 提高准确度。新升级版本采用大字体显示,读数更加直观。

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  • LCR测试仪阻抗分析仪

    E4990ALCR测试仪阻抗分析仪,20Hz至10/20/30/50/120MHz E4990A阻抗分析仪具有20Hz至120MHz的频率范围,可在宽阻抗范围内提供业界0.045%(典型值)基本精度,并且内置40V直流偏置源。等效电路分析功能支持7种不同的多参数模型,可帮助您仿真元器件的等效参数值。

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  • 是德LCR测试仪

    是德LCR测试仪E4982A,1MHz~300M/500M/1G/3GHz 描述 E4982ALCR表可为SMD电感器、EMI滤波器等无源元器件的制造测试提供更佳的性能,其中需要在高频率上进行阻抗测试(1MHz~3GHz)。除了制造测试之外,E4982A还可用于研发领域,借助强大的功能(例如列表测量)提供质量保证。

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  • 是德精密LCR测试仪

    是德精密LCR测试仪E4980A,20Hz至2MHz 描述 E4980A精密LCR表可提供更佳的精确度和速度,并且具有多种功能,可广泛应用于各种元件测量。无论是低阻抗范围还是高阻抗范围,E4980A均能提供极快的测量速度和出色的测量性能,是元件和材料的常规研发测试及制造过程测试的理想工具。LAN、USB和GPIBPC连通性能够提高设计和测试的生产率。

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  • 是德台式LCR测试仪

    是德台式LCR测试仪E4980AL,20Hz至300kHz/500kHz/1MHz E4980AL精密LCR表为基础LCR表树立了行业标准,实现了精度、速度与通用性的完美结合,适用于各种元件测量。频率升级特性能够提供稳定的投资选择和资产利用。

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  • 日置台式LCR测试仪

    3511-50日置台式LCR测试仪 精巧,非常专业,5ms快速测量LCR 高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) 高精度:±0.08% 内置比较器

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  • 日置台式LCR测试仪

    IM3523日置台式LCR测试仪 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA) 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。 内置比较器和BIN功能 2毫秒的快速测试时间

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  • 阻抗分析仪日置高端LCR测试仪

    阻抗分析仪日置高端LCR测试仪IM7585 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms,测量值偏差0.07% 测量频率:1MHz~1.3GHz 测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) 测量值偏差:0.07%(测量频率1GHz时的代表值) 基本精度:±0.65%rdg. 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)

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  • 阻抗分析仪日置高端LCR测试仪

    IM7583阻抗分析仪日置高端LCR测试仪 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms 测量频率:1MHz~600MHz 测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) 基本精度:±0.65%rdg. 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

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  • 日置台式LCR测试仪

    IM3533-01日置台式LCR测试仪 应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域 基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。 在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度比以往产品快10倍。 内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。

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  • 日置台式LCR测试仪

    IM3533日置台式LCR测试仪 应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域 基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。 在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度比以往产品快10倍。 内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。

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  • 阻抗分析仪日置台式LCR测试仪

    IM3570阻抗分析仪日置台式LCR测试仪 1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 基本精度±0.08%的高精度测量 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器的DCR和L-Q的测量

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  • 化学阻抗分析仪日置高端LCR测试仪

    IM3590化学阻抗分析仪日置高端LCR测试仪 用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容) 适用于离子运动和溶液电阻测量,1mHz~200kHz的宽范围信号源 1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查 可测量电池的无负载状态产生的内部电阻 Z快2ms的高速测量,实现扫描测量的高速化 基本精度±0.05%,零件检查到研究开发测量均可对应

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  • 日置高端LCR测试仪

    IM7581日置高端LCR测试仪 Z快0.5ms,覆盖100kHz~300MHz的低频 测量频率1MHz~300MHz 测量时间:Z快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

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  • 日置高端LCR测试仪

    IM7580A日置高端LCR测试仪 Z快0.5ms,高速、高稳定测量,节省空间的半个机架大小 测量频率1MHz~300MHz 测量时间:Z快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

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  • 日置台式LCR测试仪

    IM3536日置台式LCR测试仪 DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的标杆产品 测量频率DC,4Hz~8MHz 测量时间:Z快1ms 基本精度:±0.05%rdg 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量 可内部发生DC偏压测量 从研发到生产线活跃在各种领域中

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  • 日置高端LCR测试仪

    IM7585日置高端LCR测试仪 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms,测量值偏差0.07% 测量频率:1MHz~1.3GHz 测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) 测量值偏差:0.07%(测量频率1GHz时的代表值) 基本精度:±0.65%rdg. 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) 使用分析功能在扫描

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  • 固纬手持式LCR测试仪

    LCR916固纬手持式LCR测试仪 LCR-916/915是一款智能、方便、功能齐全的双显示手持式LCR测试仪。测试频率Z高可达100kHz/10kHz,测试范围方式更加广泛灵活。

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  • 固纬手持式LCR测试仪

    LCR915固纬手持式LCR测试仪 LCR-916/915是一款智能、方便、功能齐全的双显示手持式LCR测试仪。测试频率Z高可达100kHz/10kHz,测试范围方式更加广泛灵活。

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